德國尼克斯分體涂層測厚儀

簡要描述：

德國尼克斯分體涂層測厚儀
型號：QNIX4200P
分體涂層測厚儀: 基體：Fe磁性基體，測量范圍：0-3000微米，探頭：分體探頭

更新時間：2024-12-08

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德國尼克斯分體涂層測厚儀

型號：QNIX4200P

分體涂層測厚儀: 基體：Fe磁性基體，測量范圍：0-3000微米，探頭：分體探頭

QNIX4200P涂層測厚儀分體設計，只需調零，無需校準，使用極其簡單。QNix4200P為磁性測厚儀，可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層。操作簡單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛。

QNIX4200P涂層測厚儀分體化設計，只需調零，無需校準，使用極其簡單。

QNix4200P為磁性測厚儀，可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層。操作簡單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛。

在傳統QNix4200基礎上，為了滿足客戶不同的需要，特推出QNix4200P（分體式）機，探頭和主機之間通過一根探頭線連接起來，可以滿足特定測量環境（比如狹小空間）的需要，測量更方便，使用更人性化，性價比更高

QNIX4200P涂層測厚儀產品優點：

分體化設計，滿足不同環境的測量

只需調零，無需校準

體積小巧，操作方便

精度高

價格便宜

德國尼克斯分體涂層測厚儀技術參數

QNix® 4200P SONDEN

Sonde	Messbereich		Substrat	Abweichung
QNix® 4200 3 mm	3000 µm		Fe	+/- (3% +- 2 µm)
QNix® 4200 5 mm	5000 µm		Fe	0 – 1999 µm: +/- (3% +- 2 µm) ?2000 – 5000 µm: +/- (5% +- 2 µm)
Kleinste Messfläche		Kleinster Krümmungsradius			Kleinste Dicke des Substrats
∅ 25 mm		Konvex: 5 mm ?Konkav: 5 mm			200 µm